خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Quantitative X-Ray Diffractometry

پراش سنجی کمی اشعه ایکس

Quantitative X-Ray Diffractometry

نویسنده: Lev S. Zevin, Giora Kimmel (auth.), Inez Mureinik (eds.)

ناشر: Springer-Verlag New York

سال انتشار: 1995

تعداد صفحات: 388

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 14 مگابایت