خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Recent Advances in Microelectronics Reliability: Contributions from the European ECSEL JU project iRel40

پیشرفت‌های اخیر در قابلیت اطمینان میکروالکترونیک: مشارکت‌های پروژه اروپایی ECSEL JU iRel40

Recent Advances in Microelectronics Reliability: Contributions from the European ECSEL JU project iRel40

نویسنده: Willem Dirk van Driel (editor), Klaus Pressel (editor), Mujdat Soyturk (editor)

ناشر: Springer

سال انتشار: 2024

تعداد صفحات: 405

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 18 مگابایت