ردیابی ری پالایش شده داخل سطوح مقعر یک و دو انحنای
Refined Ray Tracing inside Single- and Double-Curvatured Concave Surfaces
نویسنده: Balamati Choudhury, Rakesh Mohan Jha (auth.)
ناشر: Springer-Verlag Singapur
سال انتشار: 2016
تعداد صفحات: 76
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 7 مگابایت