ردیابی اشعه تصفیه شده در داخل سطوح مقعر تک و دو رنگ
Refined ray tracing inside single- and double-curvatured concave surfaces
نویسنده: Choudhury, Balamati; Jha, Rakesh Mohan
ناشر: Springer
سال انتشار: 2016
تعداد صفحات: 61 [76]
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 7 مگابایت