خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Reliability Prediction for Microelectronics (Quality and Reliability Engineering Series)

پیش بینی قابلیت اطمینان برای میکروالکترونیک (سری مهندسی کیفیت و قابلیت اطمینان)

Reliability Prediction for Microelectronics (Quality and Reliability Engineering Series)

نویسنده: Joseph B. Bernstein, Alain Bensoussan, Emmanuel Bender

ناشر: Wiley

سال انتشار: 2024

تعداد صفحات: 401

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 32 مگابایت