خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies (IEEE Press Series on Microelectronic Systems)

مکانیسم‌های فرسودگی قابلیت اطمینان در فناوری‌های پیشرفته CMOS (سری مطبوعاتی IEEE در سیستم‌های میکروالکترونیک)

Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies (IEEE Press Series on Microelectronic Systems)

نویسنده: Alvin W. Strong, Ernest Y. Wu, Rolf-Peter Vollertsen, Jordi Sune, Giuseppe La Rosa, Timothy D. Sullivan, Stewart E. Rauch III

ناشر: Wiley-IEEE Press

سال انتشار: 2009

تعداد صفحات: 643

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 5 مگابایت