خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Reliability and Radiation Effects in Compound Semiconductors

قابلیت اطمینان و اثرات تابش در نیمه هادی های مرکب

Reliability and Radiation Effects in Compound Semiconductors

نویسنده: Johnston, Allan

ناشر: World Scientific

سال انتشار: 2010

تعداد صفحات: 375 [378]

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 4 مگابایت