خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Reliability of Microtechnology: Interconnects, Devices and Systems

قابلیت اطمینان میکروتکنولوژی: اتصالات، دستگاه ها و سیستم ها

Reliability of Microtechnology: Interconnects, Devices and Systems

نویسنده: Johan Liu, Olli Salmela, Jussi Sarkka, James E. Morris, Per-Erik Tegehall, Cristina Andersson

ناشر: Springer

سال انتشار: 2011

تعداد صفحات: 219

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 3 مگابایت