قابلیت اطمینان مدارها و سیستم های مقیاس نانو: روش ها و معماری مدار
Reliability of Nanoscale Circuits and Systems: Methodologies and Circuit Architectures
نویسنده: Miloš Stanisavljević, Alexandre Schmid, Yusuf Leblebici (auth.)
ناشر: Springer-Verlag New York
سال انتشار: 2011
تعداد صفحات: 223
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 6 مگابایت