خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Risk Methodologies for Technological Legacies

روش های خطر برای میراث فنی

Risk Methodologies for Technological Legacies

نویسنده: Dennis C. Bley, James G. Droppo, Vitaly A. Eremenko, Regina Lundgren (auth.), Dennis C. Bley, James G. Droppo, Vitaly A. Eremenko, Regina Lundgren (eds.)

ناشر: Springer Netherlands

سال انتشار: 2003

تعداد صفحات: 374

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 18 مگابایت