میکروسکوپ الکترونی روبشی و میکروآنالیز اشعه ایکس
Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis
نویسنده: Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Charles E. Lyman, Patrick Echlin, Eric Lifshin, Linda Sawyer, J.R. Michael
ناشر: Springer
سال انتشار: 2003
تعداد صفحات: 361
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 166 مگابایت