خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy

میکروسکوپ کاوشگر اسکن: میکروسکوپ نیروی اتمی و میکروسکوپ تونل روبشی

Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy

نویسنده: Bert Voigtländer (auth.)

ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg

سال انتشار: 2015

تعداد صفحات: 375

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 14 مگابایت