خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents

میکروسکوپ پروب اسکن: مهندسی مقیاس اتمی توسط نیروها و جریانها

Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents

نویسنده: Adam Foster, Werner A. Hofer

ناشر: Springer

سال انتشار: 2006

تعداد صفحات: 291

زبان: English

فرمت: djvu - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 4 مگابایت