خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents (NanoScience and Technology)

میکروسکوپ کاوشگر روبشی: مهندسی مقیاس اتمی توسط نیروها و جریان ها (علم و فناوری نانو)

Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents (NanoScience and Technology)

نویسنده: Adam Foster, Werner A. Hofer

ناشر: Springer

سال انتشار: 2006

تعداد صفحات: 292

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 8 مگابایت