میکروسکوپ کاوشگر روبشی: پدیده های الکتریکی و الکترومکانیکی در مقیاس نانو
Scanning Probe Microscopy: Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale
نویسنده: S. V. Kalinin, A. Gruverman (auth.), Sergei Kalinin, Alexei Gruverman (eds.)
ناشر: Springer-Verlag New York
سال انتشار: 2007
تعداد صفحات: 1001
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 39 مگابایت