خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis

میکروسکوپ الکترونی روبشی و میکروآنالیز اشعه ایکس

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis

نویسنده: Goldstein, Joseph; Joy, David C.; Michael, Joseph R.; Newbury, Dale E.; Ritchie, Nicholas W. M.; Scott, John Henry J

ناشر: Springer

سال انتشار: 2017;2018

تعداد صفحات: 554

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 74 مگابایت