اسپکترومتر جرم یون ثانویه: مقدمه ای بر اصول و عملکردها
Secondary Ion Mass Spectrometry: An Introduction to Principles and Practices
نویسنده: Paul van der Heide
ناشر: Wiley
سال انتشار: 2014
تعداد صفحات: 386
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 4 مگابایت