لامابوک
  • صفحه اصلی
  • کتاب‌ها
  • Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II: Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27–31, 1979
Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II: Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27–31, 1979

خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II: Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27–31, 1979

طیف سنجی جرمی ثانویه یونی SIMS II: مجموعه مقالات دومین کنفرانس بین المللی طیف سنجی جرمی یونی ثانویه (SIMS II) دانشگاه استنفورد ، استنفورد ، کالیفرنیا ، ایالات متحده 27 تا 31 اوت 1979

Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II: Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27–31, 1979

نویسنده: Nicholas Winograd (auth.), Prof. A. Benninghoven, Dr. C. A. Evans Jr., Dr. R. A. Powell, Prof. R. Shimizu, Dr. H. A. Storms (eds.)

ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg

سال انتشار: 1979

تعداد صفحات: 310

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 20 مگابایت

90,000 تومان 60,000 تومان