خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Secondary ion mass spectrometry : applications for depth profiling and surface characterization

طیف سنجی جرمی یونی ثانویه: برنامه های کاربردی برای پروفایل عمق و مشخصه سطح

Secondary ion mass spectrometry : applications for depth profiling and surface characterization

نویسنده: Fred Stevie

ناشر: Momentum Press

سال انتشار: 2016

تعداد صفحات: 290

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 44 مگابایت