خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Semiconductor Device Reliability

قابلیت اطمینان دستگاه نیمه هادی

Semiconductor Device Reliability

نویسنده: R. Goarin, J. P. Defars, M. Robinet, P. Durand, B. Bauduin (auth.), A. Christou, B. A. Unger (eds.)

ناشر: Springer Netherlands

سال انتشار: 1989

تعداد صفحات: 570

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 27 مگابایت