خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Spectroscopic ellipsometry : practical application to thin film characterization

بیضی سنجی طیف سنجی: کاربرد عملی برای تعیین خصوصیات لایه نازک

Spectroscopic ellipsometry : practical application to thin film characterization

نویسنده: Hilfiker, James N.; Tompkins, Harland G

ناشر: Momentum Press

سال انتشار: 2016

تعداد صفحات: 194

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 23 مگابایت