طیف سنجی ریزساختارهای نیمه هادی
Spectroscopy of Semiconductor Microstructures
نویسنده: Klaus Ploog (auth.), Gerhard Fasol, Annalisa Fasolino, Paolo Lugli (eds.)
ناشر: Springer US
سال انتشار: 1989
تعداد صفحات: 661
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 27 مگابایت