طیف سنجی نیمه هادی ها
Spectroscopy of Semiconductors
نویسنده: Wei Lu, Ying Fu
ناشر: Springer International Publishing
سال انتشار: 2018
تعداد صفحات: X, 240 [245]
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 13 مگابایت
توضیحی برای این کتاب ثبت نشده است.