اثر کرنش در نیمه هادی ها: نظریه و کاربردهای دستگاه
Strain Effect in Semiconductors: Theory and Device Applications
نویسنده: Yongke Sun, Scott E. Thompson, Toshikazu Nishida (auth.)
ناشر: Springer US
سال انتشار: 2010
تعداد صفحات: 346
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 10 مگابایت