تنش و کرنش در اپیتاکسی: مفاهیم نظری، اندازهگیریها و کاربردها
Stress and Strain in Epitaxy: Theoretical Concepts, Measurements and Applications
نویسنده: J.-P. Deville, M. Hanbucken
ناشر: Elsevier Science Imprint ; Elsevier Science & Technology Books, Elsevier Ltd., Amsterdam, 2001
سال انتشار: 2001
تعداد صفحات: 333
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 16 مگابایت