معماری تست سیستم روی تراشه طراحی نانومتری برای آزمایش پذیری
System-on-Chip Test Architectures. Nanometer Design for Testability
نویسنده: Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud and Nur A. Touba (Eds.)
ناشر: Morgan Kaufmann
سال انتشار: 2008
تعداد صفحات: 862
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 22 مگابایت