خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Terrestrial Neutron-Induced Soft Errors in Advanced Memory Devices

خطاهای نرم ناشی از نوترون های زمینی در دستگاه های حافظه پیشرفته

Terrestrial Neutron-Induced Soft Errors in Advanced Memory Devices

نویسنده: Takashi Nakamura, Eishi Yahagi, Hideaki Kameyama, Mamoru Baba

ناشر: World Scientific Publishing Company

سال انتشار: 2008

تعداد صفحات: 364

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 14 مگابایت