توسعه آزمایش محور برای C جاسازی شده
Test Driven Development for Embedded C
نویسنده: James W. Grenning
ناشر: Pragmatic Bookshelf
سال انتشار: 2011
تعداد صفحات: 0
زبان: English
فرمت: epub - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 1 مگابایت
توضیحی برای این کتاب ثبت نشده است.