خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Test Driven Development for Embedded C

توسعه آزمایش محور برای C جاسازی شده

Test Driven Development for Embedded C

نویسنده: James W. Grenning

ناشر: Pragmatic Bookshelf

سال انتشار: 2011

تعداد صفحات: 365

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 13 مگابایت