خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Testability Concepts for Digital ICs: The Macro Test Approach

مفاهیم آزمایش پذیری برای آی سی های دیجیتال: رویکرد آزمون کلان

Testability Concepts for Digital ICs: The Macro Test Approach

نویسنده: F. P. M. Beenker, R. G. Bennetts, A. P. Thijssen (auth.)

ناشر: Springer US

سال انتشار: 1995

تعداد صفحات: 215

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 9 مگابایت