خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Testing Complex and Embedded Systems

تست مجتمع و سیستم های تعبیه شده

Testing Complex and Embedded Systems

نویسنده: Kim H. Pries, Jon M. Quigley

ناشر: CRC Press

سال انتشار: 2010

تعداد صفحات: 314

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 2 مگابایت