خرید و دانلود نسخه کامل کتاب The Pathology of Devices

آسیب شناسی دستگاه ها

The Pathology of Devices

نویسنده: U. Löhrs, I. Bos (auth.), Sir Colin Berry DSC, MD, PhD, FRCPath, FRCP, FFPM (eds.)

ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg

سال انتشار: 1994

تعداد صفحات: 336 [340]

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 16 مگابایت