خرید و دانلود نسخه کامل کتاب The Test access port and boundary-scan architecture

درگاه دسترسی و معماری اسکن مرزی

The Test access port and boundary-scan architecture

نویسنده: Jeffrey Liker, David Meier

ناشر: IEEE Computer Society Press

سال انتشار: 1991

تعداد صفحات: 394

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 9 مگابایت