نظریه نقص در نیمه هادی ها
Theory of defects in semiconductors
نویسنده: David A. Drabold, David A. Drabold;Stefan Estreicher
ناشر: Springer
سال انتشار: 2006
تعداد صفحات: 274
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 4 مگابایت
توضیحی برای این کتاب ثبت نشده است.