خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Thermal Testing of Integrated Circuits

تست حرارتی مدارهای مجتمع

Thermal Testing of Integrated Circuits

نویسنده: Josep Altet, Antonio Rubio (auth.)

ناشر: Springer US

سال انتشار: 2002

تعداد صفحات: 211

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 7 مگابایت