خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Thin film analysis by X-ray scattering

تجزیه و تحلیل لایه نازک با پراکندگی اشعه ایکس

Thin film analysis by X-ray scattering

نویسنده: Mario Birkholz

ناشر: Wiley-VCH

سال انتشار: 2006

تعداد صفحات: 370

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 5 مگابایت