خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits

اعتبارسنجی پست سیلیکون مبتنی بر ردیابی برای مدارهای VLSI

Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits

نویسنده: Xiao Liu, Qiang Xu (auth.)

ناشر: Springer International Publishing

سال انتشار: 2014

تعداد صفحات: 118

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 3 مگابایت