میکروسکوپ الکترونی عبوری در میکروالکترونیکی
Transmission Electron Microscopy in Micro-Nanoelectronics
نویسنده: Claverie, Alain (editor);Mouis, Mireille (editor)
ناشر: Wiley-ISTE
سال انتشار: 2012
تعداد صفحات: 248
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 17 مگابایت