خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures: An Analysis of Composition and Strain State (Springer Tracts in Modern Physics)

میکروسکوپ الکترونی عبوری نانوساختارهای نیمه هادی: تجزیه و تحلیل ترکیب و حالت کرنش (تراکت های اسپرینگر در فیزیک مدرن)

Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures: An Analysis of Composition and Strain State (Springer Tracts in Modern Physics)

نویسنده: Andreas Rosenauer

ناشر: Springer Spektrum. in Springer-Verlag GmbH, Springer tracts in modern physics, 182, Berlin, ©2003

سال انتشار: 2003

تعداد صفحات: 201

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 13 مگابایت