طیف سنجی سطح دام در نیمه هادی های آمورف
Trap Level Spectroscopy in Amorphous Semiconductors
نویسنده: Victor V. Mikla, Victor I Mikla
ناشر: Elsevier
سال انتشار: 2010
تعداد صفحات: 129
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 1 مگابایت