عیب یابی سیستم های LC: یک رویکرد جامع برای عیب یابی تجهیزات و جداسازی LC
Troubleshooting LC Systems: A Comprehensive Approach to Troubleshooting LC Equipment and Separations
نویسنده: John W. Dolan, Lloyd R. Snyder (auth.)
ناشر: Humana Press
سال انتشار: 1989
تعداد صفحات: 518
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 18 مگابایت