پدیده های Ultrafast در نیمه هادی ها
Ultrafast Phenomena in Semiconductors
نویسنده: Torsten Meier, Peter Thomas, Stephan W. Koch (auth.), Kong-Thon Tsen (eds.)
ناشر: Springer-Verlag New York
سال انتشار: 2001
تعداد صفحات: 512
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 17 مگابایت