خرید و دانلود نسخه کامل کتاب VLSI Design and Test for Systems Dependability

طراحی و آزمایش VLSI برای قابلیت اطمینان سیستم

VLSI Design and Test for Systems Dependability

نویسنده: Shojiro Asai

ناشر: Springer Japan

سال انتشار: 2019

تعداد صفحات: XVII, 800 [792]

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 41 مگابایت