خرید و دانلود نسخه کامل کتاب VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability

اصول و معماری آزمون VLSI: طراحی برای آزمایش پذیری

VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability

نویسنده: Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen

ناشر: Morgan Kaufmann

سال انتشار: 2006

تعداد صفحات: 809

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 6 مگابایت