تست VLSI: تکنیک های دیجیتال و ترکیبی آنالوگ / دیجیتال
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques
نویسنده: Hurst, Stanley Leonard
ناشر: Institution of Electrical Engineers
سال انتشار: 1998
تعداد صفحات: 554
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 29 مگابایت