خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Vth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis / V. Internationaler Kongreß für Röntgenoptik und Mikroanalyse / Ve Congrès International sur l’Optique des Rayons X et la Microanalyse

هفتمین کنگره بین المللی نوری و میکروآنالیز اشعه ایکس / V کنگره بین المللی نوری اشعه ایکس و میکروآنالیز / Ve Congrès International sur l’Optique des Rayons X et la Microanalysis

Vth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis / V. Internationaler Kongreß für Röntgenoptik und Mikroanalyse / Ve Congrès International sur l’Optique des Rayons X et la Microanalyse

نویسنده: U. Bonse (auth.), Professor Dr. G. Möllenstedt, Dr. K. H. Gaukler (eds.)

ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg

سال انتشار: 1969

تعداد صفحات: 612 [624]

زبان: German

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 30 مگابایت