خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Wafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits

تست و تست سطح ویفر در حین سوختن برای مدارهای مجتمع

Wafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits

نویسنده: Sudarshan Bahukudumbi, Krishnendu Chakrabarty

ناشر: Artech House Publishers

سال انتشار: 2010

تعداد صفحات: 215

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 3 مگابایت