پراش اشعه ایکس توسط مواد پلی کریستالی: ابزار دقیق و تجزیه و تحلیل ریزساختاری
X-Ray Diffraction by Polycrystalline Materials : Instrumentation and Microstructural Analysis
نویسنده: René Guinebretière
ناشر: ISTE
سال انتشار: 2006
تعداد صفحات: 385
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 6 مگابایت